Examination of polymer/metal interface modified by self-assembled monolayer by Kelvin probe force microscopy and secondary ion mass spectrometry
PBN-AR
Instytucja
Wydział Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej (Uniwersytet Jagielloński w Krakowie)
Źródłowe zdarzenia ewaluacyjne
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
angielski
Czasopismo
Electrochimica Acta
ISSN
0013-4686
EISSN
1873-3859
Wydawca
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
Strony od-do
462-467
Numer tomu
104
Link do pełnego tekstu
Liczba arkuszy
0,3
Słowa kluczowe
EN
Kelvin probe force microscopy
secondary ion mass spectrometry
buried interface
self-assembled monolayers
thin polymer film
Cechy publikacji
peer-reviewed
original-article
Inne
System-identifier
28098
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych