A novel approach to the characterization of thin oxide layers
PBN-AR
Instytucja
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Źródłowe zdarzenia ewaluacyjne
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
Materials Letters
ISSN
0167-577X
EISSN
1873-4979
Wydawca
Elsevier Science BV
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
Strony od-do
235--238
Numer tomu
173
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.28
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 1
Autorzy przekładu
(liczba autorów przekładu: 0)
Słowa kluczowe
EN
oxidation
microstructure
TEM
Sanicro 25
oxide layer
ASTAR
Cr2O3 scale
Streszczenia
Język
EN
Treść
A novel approach to the characterization of thin coatings or surface layers by means of the ASTAR hardware attached to the transmission electron microscope (TEM) and the dedicated software, used for orientation and phase map analyses, was applied to examine the Sanicro 25 steel after 500 h of oxidation in water vapor at 700 °C. Phase composition and grain orientation maps as well as texture analysis of thin (i.e. with a thickness of below 1 µm) oxide layers were performed using a new TEM technique similar to electron backscatter diffraction in the scanning electron microscope. The spatial resolution of this technique was sufficient for the imaging of nm-sized grains and a full characterization of the thin oxide scale. The acquired results were verified using data obtained by means of conventional selected area electron diffraction (TEM-SAED), energy-dispersive X-ray spectroscopy and texture analyses using X-ray diffraction techniques. It should be noted that high-quality TEM samples are required for such investigations.
Cechy publikacji
original article
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:097035
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych