Analysis of surface properties of semiconducting (Ti,Pd,Eu)Ox thin films
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Źródłowe zdarzenia ewaluacyjne
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
OPTO-ELECTRONICS REVIEW
ISSN
1230-3402
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
nr 1
Strony od-do
12-16
Numer tomu
vol. 24
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
cienka warstwa
TiO2
pallad
europ
przezroczysty tlenek półprzewodnikowy
Inne
System-identifier
000202476
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych