Analiza właściwości wybranych warstw typu TCO jako optycznych luster podczerwieni
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Źródłowe zdarzenia ewaluacyjne
Analiza właściwości wybranych warstw typu TCO jako optycznych luster podczerwieni (zgłoszony przez Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
pol
Czasopismo
Przegląd Elektrotechniczny
ISSN
0033-2097
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
nr 9
Strony od-do
20-23
Numer tomu
R. 91
Link do pełnego tekstu
http://dx.doi.org/10.15199/48.2015.09.06
Identyfikator DOI
10.15199/48.2015.09.06
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
przezroczysty tlenek przewodzący
przezroczysta elektronika
cienkowarstwowe lustra podczerwieni
tlenek indowo-cynowy
Open access
Tryb otwartego dostępu
Inne
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Inna
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Data udostępnienia w sposób otwarty
Inne
System-identifier
000200717
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych
Skocz do