Spectroscopic characterization of high-purity polycrystalline Bi-Te films grown by thermal evaporation
PBN-AR
Instytucja
Wydział Matematyki, Fizyki i Chemii (Uniwersytet Śląski w Katowicach)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
Journal of Crystal Growth
ISSN
0022-0248
EISSN
Wydawca
ELSEVIER SCIENCE BV
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
567-572
Numer tomu
401
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,3
Słowa kluczowe
PL
Bismuth compounds
Characterization of Bi-Te film
Electronic structure
Molecular beam epitaxy
Topological insulator
Inne
System-identifier
0192500104866
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych