The influence of mounting and thermal strains on defects disclose during ageing test for laser diodes for 808 nm and 880 nm bands
PBN-AR
Instytucja
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
ENG
Czasopismo
Proceedings of SPIE
ISSN
0277-786X
EISSN
Wydawca
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
UNSP 890211
Strony od-do
890211
Numer tomu
8902
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
Nazwa konferencji
1th Conference on Electron Technology
Początek konferencji
2013-04-16
Koniec konferencji
2013-04-20
Lokalizacja konferencji
Ryń
Kraj konferencji
PL
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Inne
System-identifier
PX-56b462888106eb71826e36eb