Atomic and electronic struture of Bi-Te films grown at various conditions by MBE method
PBN-AR
Instytucja
Wydział Matematyki, Fizyki i Chemii (Uniwersytet Śląski w Katowicach)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
Synchrotron Radiation in Natural Science
ISSN
1644-7190
EISSN
Wydawca
Polish Synchrotron Radiation Society
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
1-2
Strony od-do
36-36
Numer tomu
14
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,5
Słowa kluczowe
EN
molecular beam epitaxy MBE
topological insulators
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
Inne
System-identifier
0192700127097