Different grain interaction models used for interpretation of lattice strain data collected using grazing incidence X-ray diffraction
PBN-AR
Instytucja
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
MATERIALS SCIENCE FORUM
ISSN
0255-5476
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
26--30
Numer tomu
768-769
Link do pełnego tekstu
Liczba arkuszy
0.35
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 3
Słowa kluczowe
EN
X-ray diffraction
grazing incident geometry
X-ray stress factors
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
ICRS 9
Nazwa konferencji
9th International Conference on Residual Stresses
Początek konferencji
2012-10-07
Koniec konferencji
2012-10-09
Lokalizacja konferencji
Garmisch-Partenkirchen
Kraj konferencji
DE
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Streszczenia
Język
EN
Treść
Multireflection grazing incidence X-ray diffraction (MGIXD) was applied to measure residual stresses in thin surface layers. The influence of X-ray stress factors on the interpretation of MGIDX results for polycrystalline materials having respectively low (Ti) and high elastic anisotropy of crystallites (Ni alloy) was considered. It was found that the free-surface model gives the best agreement between experimental and theoretical lattice strains measured in samples having low and high elastic crystal anisotropy.
Cechy publikacji
original article
peer-reviewed
Inne
System-identifier
idp:076980
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych