Method of excess fractions with application to absolute distance metrology: analytical solution
PBN-AR
Instytucja
Wydział Mechatroniki (Politechnika Warszawska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Applied Optics
ISSN
1559-128X
EISSN
Wydawca
Optical Society of America
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
23
Strony od-do
5758-5765
Numer tomu
52
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.5
Autorzy
(liczba autorów: 3)
Pozostali autorzy
+ 2
Inne
System-identifier
WUT288106