Non-Periodicity of Peak-to-Peak Distances in X-Ray Diffraction Spectrums from Perfect Superlattices
PBN-AR
Instytucja
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Elektronowej
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
EISSN
1089-7550
Wydawca
AMER INST PHYSICS
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
Strony od-do
064302-064302
Numer tomu
113
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Open access
Tryb otwartego dostępu
Inne
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Licencja otwartego dostępu
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Data udostępnienia w sposób otwarty
Streszczenia
Język
en
Treść
X-ray diffraction investigations of type II InAs/GaSb superlattice on a GaSb(001) substrate are presented. The wide range of diffraction angles (2θ/ω scans) covering 002 and 004 reflections was examined at Petra III synchrotron. The angular region between 002 and 004 reflections was the most interesting part of the measured diffraction profile. In this region, a non-coincidence of superlattice satellite peaks belonging to these two reflections is observed. The multiple-beam dynamical diffraction approach was used for correct simulation of the observed diffraction profile.
Cechy publikacji
ORIGINAL_ARTICLE
Inne
System-identifier
567136
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych