Atomic scale structure investigations of epitaxial Fe/Cr multilayers
PBN-AR
Instytucja
Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. Aleksandra Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
EN
Czasopismo
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
EISSN
Wydawca
ELSEVIER SCIENCE BV
DOI
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
154-159
Numer tomu
305
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,37
Autorzy
(liczba autorów: 5)
Pozostali autorzy
+ 4
Słowa kluczowe
EN
Fe/Cr; Multilayers; Interface roughness; Mössbauer spectroscopy; Antiferromagnetic coupling; Transmission electron microscopy
Streszczenia
Język
EN
Treść
Fe/Cr multilayers were deposited by molecular beam epitaxy on the MgO(1 0 0) substrate. Structural properties of the samples were analyzed by low energy electron diffraction, high resolution transmission electron microscopy (HRTEM), as well as by X-ray reflectivity, conversion electron Mössbauer spectroscopy (CEMS) and Auger electron spectroscopy. Investigations revealed multilayered system built of well-ordered Fe and Cr thin films with (1 0 0) orientation. A high geometrical perfection of the system, i.e. planar form of interfaces and reproducible thickness of layers, was also proven. Fe/Cr interface roughness was determined to be 2–3 atomic layers. CEMS studies allowed to analyze at atomic scale the structure of buried Fe/Cr interfaces, as well as to distinguish origin of interface roughness. Roughnesses resulting from interface corrugations and from the Fe–Cr interdiffusion at interfaces were observed. Fe/Cr multilayers showed strong antiferromagnetic coupling of
Cechy publikacji
ORIGINAL_ARTICLE
Inne
System-identifier
665537
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych