Scanning thermal microscopy (SThM): How to map temperature and thermal properties at the nanoscale
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
Advances in Imaging and Electron Physics
ISSN
1076-5670
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
Strony od-do
177-221
Numer tomu
vol. 190
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Słowa kluczowe
pol
mikroskopia sił atomowych
skaningowa mikroskopia termiczna (SThM)
pomiar temperatury w nanoskali
Inne
System-identifier
000200331
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych