Carrier density distribution in silicon nanowires investigated by scanning thermal microscopy and Kelvin probe force microscopy
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
MICRON
ISSN
0968-4328
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
Strony od-do
93-100
Numer tomu
vol. 79
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 3
Słowa kluczowe
pol
nanodruty krzemowe
skaningowa mikroskopia termiczna
mikroskopia sił atomowych z sondą Kelwina
rozkład gęstości nośników
efekt odcięcia kanału
Inne
System-identifier
000200261
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych