Complex defect investigation by DLTFS method
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Książka
Tytuł książki
3rd International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies : proceedings of ADEPT, Štrbské Pleso, High Tatras, Slovakia, June 1-4, 2015
Data publikacji
2015
ISBN
9788055410333
Wydawca
University of Žilina
Publikacja
Główny język publikacji
eng
Tytuł rozdziału
Complex defect investigation by DLTFS method
Rok publikacji
2015
Strony (od-do)
198-201
Numer rozdziału
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.3
Hasło encyklopedyczne
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 4
Słowa kluczowe
pol
arsenek galu
spektroskopia głębokich poziomów
głębokie poziomy energetyczne
Konferencja
Indeksowana w Scopus
nie
Indeksowana w Web of Science Core Collection
nie
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
ADEPT
Nazwa konferencji
3rd International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies
Początek konferencji
2014-06-01
Koniec konferencji
2014-06-04
Lokalizacja konferencji
Štrbské Pleso
Kraj konferencji
SK
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Inne
System-identifier
000199052