Quality factor and resonant frequency measurement by ARMA process identification of randomly excited MEMS/NEMS cantilever
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Książka
Tytuł książki
The 4th International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 27-31 October 2014, Taipei, Taiwan
Data publikacji
2014
ISBN
9781479979233
Wydawca
IEEE
Publikacja
Główny język publikacji
eng
Tytuł rozdziału
Quality factor and resonant frequency measurement by ARMA process identification of randomly excited MEMS/NEMS cantilever
Rok publikacji
2014
Strony (od-do)
151-154
Numer rozdziału
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,3
Hasło encyklopedyczne
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 1
Słowa kluczowe
pol
MEMS
NEMS
proces ARMA
odpowiedź stochastyczna
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
3M-NANO
Nazwa konferencji
4th International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale
Początek konferencji
2014-10-27
Koniec konferencji
2014-10-31
Lokalizacja konferencji
Taipei
Kraj konferencji
TW
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Inne
System-identifier
000200352
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych