Standard-based direct calibration method for scanning thermal microscopy nanoprobes
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL
ISSN
0924-4247
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
1-6
Numer tomu
vol. 214
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
skaningowa mikroskopia termiczna
kalibracja
pomiar temperatury
Streszczenia
Język
eng
Treść
A direct calibration method, which is based on international temperature standards, developed for scanning thermal microscopy (SThM) nanoprobes is presented. The idea of calibration is intended mostly for use with thermoresistive SThM nanoprobes and is based on referencing the tip resistance to melting or freezing points of materials, which are contacted directly by the SThM tip. Particularly, in the presented experiment the gallium melting point is used, which is a defining fixed point of the International Temperature Scale of 1990 (ITS-90). Other points suitable for the SThM calibration are suggested, which makes the presented attempt the first step toward linking the quantitative SThM experiments with international temperature standards and therefore envisaging the traceability of nanoscale temperature measurements.
Inne
System-identifier
000192659
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych