Efficient broken line fitting procedure for analysis of force spectroscopy curves in chemical force microscopy
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
ISSN
0021-8979
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
nr 6, art. 064310
Strony od-do
1-7
Numer tomu
vol. 114
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 1
Słowa kluczowe
pol
mikroskopia sił chemicznych
krzywe siła-odległość
przetwarzanie sygnałów
Inne
System-identifier
000188125
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych