Electrical characterization of the AIIIBV-N heterostructures by capacitance methods
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
APPLIED SURFACE SCIENCE
ISSN
0169-4332
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
Strony od-do
175-179
Numer tomu
vol. 269
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 9
Słowa kluczowe
pol
epitaksja AP-MOVPE
spektroskopia głębokich poziomów DLTS
pomiary pojemnościowo-napięciowe
Inne
System-identifier
000187110
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych