Wpływ ilości domieszki na właściwości trybologiczne cienkich warstw TiO2:Nd
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
pol
Czasopismo
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
ISSN
0033-2089
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2013
Numer zeszytu
nr 1
Strony od-do
12-15
Numer tomu
R. 54
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 1
Słowa kluczowe
pol
TiO2:Nd
rozpylanie magnetronowe
cienka warstwa
odporność na ścieranie
Inne
System-identifier
000185385