Degradation transformation in spinel-type functional thick-film ceramic materials
PBN-AR
Instytucja
Wydział Matematyczno-Przyrodniczy (Uniwersytet Humanistyczno-Przyrodniczy im. Jana Długosza w Częstochowie)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN
0026-2714
EISSN
Wydawca
PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
12
Strony od-do
2843-2848
Numer tomu
54
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 4)
Pozostali autorzy
+ 3
Słowa kluczowe
en
Ageing
Degradation
Relaxation function
Thick films
Ceramics
Streszczenia
Język
en
Treść
The mathematical models of thermally-induced degradation processes in solids with nano- and microscale topological disordering – bulk and thick-film ceramic composites based on mixed transition-metal manganites are considered. It was shown that degradation transformations in these materials are best described by stretched or suppressed exponential relaxation function. The stretched exponential degradation kinetics is proper to own degradation transformations in such one-type systems as bulk ceramics and multilayered thick-film structures. The mechanism of degradation transformations in one-layered thick films, including two or more different on their origin elementary are described by suppressed exponential kinetics.
Cechy publikacji
ORIGINAL_ARTICLE
Inne
System-identifier
592617
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych