An investigation of thin Zr films on 6H-SiC(0001) and GaN(0001) surfaces by XPS, LEED, and STM
PBN-AR
Instytucja
Wydział Fizyki i Astronomii (Uniwersytet Wrocławski)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Applied Physics. A
ISSN
0947-8396
EISSN
1432-0630
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
4
Strony od-do
nr art. 268, 1-10
Numer tomu
122
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
PL
EN
Streszczenia
Język
EN
Treść
Cechy publikacji
Inne
System-identifier
2016410654
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych