Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology
PBN-AR
Instytucja
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Książka
Tytuł książki
2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) [Dokument elektroniczny]. 8–15 Nov. 2014, [Seattle, USA]
Data publikacji
2014
ISBN
978-1-4799-6097-2
Wydawca
IEEE
Publikacja
Główny język publikacji
EN
Tytuł rozdziału
Radiation damage in transistors fabricated with lapis semiconductor 200 nm FD-SOI technology
Rok publikacji
2014
Strony (od-do)
1--3
Numer rozdziału
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0.21
Hasło encyklopedyczne
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 11
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
nie
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
NSS/MIC
Nazwa konferencji
2014 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference
Początek konferencji
2014-11-08
Koniec konferencji
2014-11-16
Lokalizacja konferencji
Seattle
Kraj konferencji
US
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
INSPEC
Streszczenia
Język
EN
Treść
The paper presents radiation tolerance of the transistor TEG (TrTEG5) test structure fabricated in 200 nm fully depleted silicon on insulator technology dedicated to production of SOI detectors. The chip was irradiated with 60Cobalt gamma-ray source to total dose of 1.175 kGy at a rate of 67.8 Gy/h. During irradiation, current-voltage characteristics of seventeen different transistors were measured so as to investigate factors affecting radiation resistance. Transistors' threshold voltage shift and transconductance change as a function of the deposited dose are presented. After irradiation all transistors manifested correct operation and threshold voltage change of around 200 mV fall within the limits of specified technological mismatch.
Cechy publikacji
chapter-in-a-book
Inne
System-identifier
idp:103986
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych