A symmetrical stretching stage for electrical atomic force microscopy
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
MEASUREMENT
ISSN
0263-2241
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
Strony od-do
185-188
Numer tomu
vol. 87
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 2
Autorzy przekładu
(liczba autorów przekładu: 0)
Słowa kluczowe
pol
rozciąganie próbek
mikroskopia sił atomowych
mikroskopia sił atomowych z sondą Kelvina
Inne
System-identifier
000205348
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych