Scanning capacitance microscopy characterization of AIIIBV epitaxial layers
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
MATERIALS SCIENCE-POLAND
ISSN
2083-134X
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
nr 4
Strony od-do
845-850
Numer tomu
vol. 34
Link do pełnego tekstu
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
skaningowa mikroskopia pojemnościowa
SCM
mikroskop sił atomowych
AFM
GaAs
InGaAs
AlGaN/GaN
Open access
Tryb otwartego dostępu
Otwarte czasopismo
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Creative Commons — Uznanie autorstwa-Niekomercyjne-Bez utworów zależnych
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Data udostępnienia w sposób otwarty
Inne
System-identifier
000207904
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych