Charakterystyka AFM cienkich warstw SnO2 uzyskanych podczas sputteringu magnetronowego przy wybranych warunkach procesu
PBN-AR
Instytucja
Wydział Nauk Ekonomicznych i Technicznych (Państwowa Szkoła Wyższa im. Papieża Jana Pawła II w Białej Podlaskiej)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
pl
Czasopismo
Czasopismo Inżynierii Lądowej, Środowiska i Architektury. Journal of Civil Engineering, Environ
ISSN
2300-5130
EISSN
2300-8903
Wydawca
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
62(2/15)
Strony od-do
99-106
Numer tomu
32
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Pozostali autorzy
+ 1
Słowa kluczowe
en
tin oxide
thin film parameters
transparent electrodes
pl
tlenek cyny
parametry cienkich warstw
elektrody przezroczyste
Open access
Tryb otwartego dostępu
Inne
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Inna
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Data udostępnienia w sposób otwarty
Cechy publikacji
original-article
Inne
System-identifier
0000030274
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych