Influence of silver thickness on optical properties of metal island films fabricated by physical vapour deposition
PBN-AR
Instytucja
Instytut Optoelektroniki (Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
International Conference on Transparent Optical Networks-ICTON
ISSN
2162-7339
EISSN
Wydawca
IEEE, 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
We.P.29
Numer tomu
ICTON 2014
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
0,5
Słowa kluczowe
en
Deposition
Fabrication
Metallic films
Optical properties
Physical vapor deposition
Raman scattering
Surface plasmon resonance
Surface scattering
Transparent optical networks
Metal island films
Physical vapour deposition
Plasmon resonances
Semicontinuous metal films
Signal enhancement
Silver island films
Surface enhanced Raman Scattering (SERS)
UV-vis-NIR spectroscopy
Silver
Konferencja
Indeksowana w Scopus
tak
Indeksowana w Web of Science Core Collection
tak
Liczba cytowań z Web of Science Core Collection
Nazwa konferencji (skrócona)
ICTON 2014
Nazwa konferencji
16th International Conference on Transparent Optical Networks
Początek konferencji
2014-07-06
Koniec konferencji
2014-07-10
Lokalizacja konferencji
Graz
Kraj konferencji
AT
Lista innych baz czasopism i abstraktów w których była indeksowana
Streszczenia
Język
en
Treść
In this paper we report studies on the influence of silver island films' thickness on their optical and surface-enhanced Raman scattering properties. The semicontinuous silver films of thickness in range 3-10 nm were fabricated using electron beam physical vapour deposition and their optical properties were characterized using UV-Vis-NIR spectroscopy. The SERS enhancement properties of fabricated films were evaluated using p-mercaptoaniline as an testing analyte. It was found that with increasing thickness of the silver films their plasmon resonance becomes broader and its maximum shifts toward longer wavelengths. The largest SERS signal enhancement was observed for the 7 nm thick Ag films. © 2014 IEEE.
Cechy publikacji
discipline:Elektronika
discipline:Fizyka
discipline:Inżynieria materiałowa
discipline:Electronics
discipline:Physics
discipline:Materials science
Original article
Original article presents the results of original research or experiment.
Oryginalny artykuł naukowy
Oryginalny artykuł naukowy przedstawia rezultaty oryginalnych badań naukowych lub eksperymentu.
Inne
System-identifier
PBN-R:579751
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych