Application of different modes of nanoscale impedance microscopy in materials research
PBN-AR
Instytucja
Wydział Chemiczny (Politechnika Gdańska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
ENG
Czasopismo
Surface Innovations
ISSN
2050-6252
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2015
Numer zeszytu
3
Strony od-do
181-189
Numer tomu
3
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 1)
Słowa kluczowe
ATOMIC FORCE MICROSCOPY\IMPEDANCE SPECTROSCOPY\NANOIMPEDANCE MICROSCOPY
Streszczenia
Język
Treść
In recent years, there is noticeable interest in application of various types of scanning probe microscopy in material science research. One of them is contact atomic force microscopy combined with local impedance measurements, known as nanoscale impedance microscopy. Literature references present its application in investigations of new materials, microelectronics diagnostics, or research of protective coatings performance. In this paper, the authors present assumptions of methodology, important modes of operation, practical aspects of measurement system, and also exemplary results of application in fields of materials’ characterization.
Inne
System-identifier
134632
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych