Implementation and Validation of Multisinusoidal, Fast Impedance Measurements in Atomic Force Microscope Contact Mode.
PBN-AR
Instytucja
Wydział Chemiczny (Politechnika Gdańska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
ENG
Czasopismo
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
ISSN
1431-9276
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
Strony od-do
974-981
Numer tomu
20
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 2)
Słowa kluczowe
ATOMIC FORCE MICROSCOPY
FAST IMPEDANCE MEASUREMENTS
MULTISNUSIODAL IMPEDANCE SPECTROSCOPY
NANOIMPEDANCE MICROSCOPY
NANOIMPEDANCE SPECTROSCOPY
Streszczenia
Język
Treść
This study presents a novel approach to impedance measurements. The methodology discussed is limited to contact in the sample-probe system under ambient conditions without the presence of electrolyte. Comparison with results of direct and alternating current measurements for well-defined metallic surfaces are made. In spite of idealization related to the type of contact examined, the proposed technique provides an improvement of traditional impedance measurement related to sequential changes in system perturbation compared with the sine wave superposition type.
Inne
System-identifier
128676