Dynamic Nanoimpedance Characterization of the Atomic Force Microscope Tip-Surface Contact
PBN-AR
Instytucja
Wydział Chemiczny (Politechnika Gdańska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
ENG
Czasopismo
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
ISSN
1431-9276
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2014
Numer zeszytu
1
Strony od-do
72-77
Numer tomu
20
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
AFM
DEIS
NANOCONTACT
NANOIMPEDANCE
SPM
Streszczenia
Język
Treść
Nanoimpedance measurements, using the dynamic impedance spectroscopy technique, were carried out during loading and unloading force of a probe on three kinds of materials of different resistivity. These materials were: gold, boron-doped diamond, and AISI 304 stainless steel. Changes of impedance spectra versus applied force were registered and differences in the tip-to-sample contact character on each material were revealed. To enable comparison between materials and phases, a new standardization method is proposed, which simulates conditions of initial contact.
Inne
System-identifier
127355
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych