Sub-nanometer resolution XPS depth profiling: Sensing of atoms
PBN-AR
Instytucja
Wydział Chemii (Uniwersytet Warszawski)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
angielski
Czasopismo
Applied Surface Science (35pkt w roku publikacji)
ISSN
0169-4332
EISSN
Wydawca
ELSEVIER SCIENCE BV
DOI
URL
Rok publikacji
2017
Numer zeszytu
Strony od-do
386–393
Numer tomu
411
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Inne
System-identifier
PX-58edc47ed5de51f226cffe02
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych