Belle II SVD ladder assembly procedure and electrical qualification
PBN-AR
Instytucja
Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
ISSN
0168-9002
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2016
Numer zeszytu
Strony od-do
381-383
Numer tomu
824
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy przekładu
(liczba autorów przekładu: 0)
Słowa kluczowe
en
Belle II
Silicon vertex detector
Double sided silicon strip detector
Origami
Open access
Tryb otwartego dostępu
Inne
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Inna
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Streszczenia
Język
en
Treść
The Belle II experiment at the SuperKEKB asymmetric e+e−e+e− collider in Japan will operate at a luminosity approximately 50 times larger than its predecessor (Belle). At its heart lies a six-layer vertex detector comprising two layers of pixelated silicon detectors (PXD) and four layers of double-sided silicon microstrip detectors (SVD). One of the key measurements for Belle II is time-dependent CP violation asymmetry, which hinges on a precise charged-track vertex determination. Towards this goal, a proper assembly of the SVD components with precise alignment ought to be performed and the geometrical tolerances should be checked to fall within the design limits. We present an overview of the assembly procedure that is being followed, which includes the precision gluing of the SVD module components, wire-bonding of the various electrical components, and precision three dimensional coordinate measurements of the jigs used in assembly as well as of the final SVD modules.
Cechy publikacji
peer-reviewed
original-article
Inne
System-identifier
25628
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych