Characterization of raw materials and self-organized Bi2O3–Ag eutectic by X-ray diffraction, scanning electron microscopy, and X-ray photoelectron spectroscopy
PBN-AR
Instytucja
Centrum Nowych Technologii UW (Uniwersytet Warszawski)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY (20pkt w roku publikacji)
ISSN
0232-1300
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2017
Numer zeszytu
8
Strony od-do
1700044-1700044
Numer tomu
52
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 6)
Pozostali autorzy
+ 5
Cechy publikacji
ORIGINAL_ARTICLE
Inne
System-identifier
856090
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych