A dispersive inelastic X-ray scattering spectrometer for use at X-ray Free Electron Lasers
PBN-AR
Instytucja
Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Applied Sciences-Basel (25pkt w roku publikacji)
ISSN
2076-3417
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2017
Numer zeszytu
Strony od-do
899
Numer tomu
7
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
(liczba autorów: 7)
Pozostali autorzy
+ 6
Autorzy przekładu
(liczba autorów przekładu: 0)
Słowa kluczowe
en
dispersive X-ray spectrometer
von Hamos geometry
inelastic X-ray scattering
X-ray free electron laser
SwissFEL
segmented crystal
Open access
Tryb otwartego dostępu
Otwarte czasopismo
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Creative Commons — Uznanie autorstwa
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Streszczenia
Język
en
Treść
We report on the application of a short working distance von Hamos geometry spectrometer to measure the inelastic X-ray scattering (IXS) signals from solids and liquids. In contrast to typical IXS instruments where the spectrometer geometry is fixed and the incoming beam energy is scanned, the von Hamos geometry allows measurements to be made using a fixed optical arrangement with no moving parts. Thanks to the shot-to-shot capability of the spectrometer setup, we anticipate its application for the IXS technique at X-ray free electron lasers (XFELs). We discuss the capability of the spectrometer setup for IXS studies in terms of efficiency and required total incident photon flux for a given signal-to-noise ratio. The ultimate energy resolution of the spectrometer, which is a key parameter for IXS studies, was measured to the level of 150 meV at short crystal radius thanks to the application of segmented crystals for X-ray diffraction. The short working distance is a key parameter for spectrometer efficiency that is necessary to measure weak IXS signals.
Cechy publikacji
peer-reviewed
original-article
Inne
System-identifier
555
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych