Detection of secondary and backscattered electrons for 3D imaging with multi-detector method in VP/ESEM
PBN-AR
Instytucja
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki (Politechnika Wrocławska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
eng
Czasopismo
Micron (30pkt w roku publikacji)
ISSN
0968-4328
EISSN
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2018
Numer zeszytu
Strony od-do
45-60
Numer tomu
vol. 104
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Słowa kluczowe
pol
mikroskopia elektronowa zmiennego ciśnienia/środowiskowa
obrazowanie 3D
metoda wielodetektorowa
detekcja elektronów wtórnych
kierunkowa detekcja elektronów wstecznie rozproszonych
Open access
Tryb otwartego dostępu
Inne
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Inna
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Data udostępnienia w sposób otwarty
Inne
System-identifier
000210935
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych