Design an identification function to reduce the computational resources on the testing process of an analog electronic circuit
PBN-AR
Instytucja
Wydział Automatyki, Elektroniki i Informatyki (Politechnika Śląska)
Informacje podstawowe
Główny język publikacji
en
Czasopismo
Elektron. Elektrotech.
ISSN
1392-1215
EISSN
2029-5731
Wydawca
DOI
URL
Rok publikacji
2019
Numer zeszytu
3
Strony od-do
25-33
Numer tomu
25
Identyfikator DOI
Liczba arkuszy
Autorzy
Słowa kluczowe
en
Dickson charge-pump
functional testing
incipient faults
evolutionary regression
CMOS circuit identification
pl
pompa zasilająca Dickona
testowanie funkcjonalne
powstające wady
regresja ewolucyjna
identyfikacja obwodu CMOS
Open access
Tryb otwartego dostępu
Otwarte czasopismo
Wersja tekstu w otwartym dostępie
Wersja opublikowana
Licencja otwartego dostępu
Inna
Czas opublikowania w otwartym dostępie
Razem z publikacją
Data udostępnienia w sposób otwarty
Cechy publikacji
original-article
Inne
System-identifier
0000130749
CrossrefMetadata from Crossref logo
Cytowania
Liczba prac cytujących tę pracę
Brak danych
Referencje
Liczba prac cytowanych przez tę pracę
Brak danych