Wyszukiwanie obejmuje jedynie prace już zarchiwizowane w Module Sprawozdawczym PBN.

Przetwarzanie...


Źródło
Rok publikacji
–
Typ
Filtruj
Sortowanie:
Tytuł
Tytuł
Rok
Rok
Najstarsza modyfikacja
Ostatnia modyfikacja
Artykuł PBN-AR
Relative Reflection Difference as a Method for Measuring the Thickness of the Exfoliated MoSe2 Layers
10.12693/APhysPolA.132.316
Zmodyfikowano: 20/07/2018 03:51:39 przez:
Autorzy
(liczba autorów: 8)
Adam Babiński
Barbara Piętka
Jacek Szczytko
Magdalena Grzeszczyk
Mateusz Król
Katarzyna Lekenta
K. Norowski
Karolina Łempicka
Źródło
ACTA PHYSICA POLONICA A (15pkt w roku publikacji) (segment A pozycja 198, 15 pkt.)
Rok
2017
Źródłowe Zdarzenia Ewaluacyjne
Relative Reflection Difference as a Method for Measuring the Thickness of the Exfoliated MoSe2 Layers (zgłoszony przez Wydział Fizyki)