×

Serwis używa ciasteczek ("cookies") i podobnych technologii m.in. do utrzymania sesji i w celach statystycznych. • Ustawienia przeglądarki dotyczące obsługi ciasteczek można swobodnie zmieniać. • Całkowite zablokowanie zapisu ciasteczek na dysku komputera uniemożliwi logowanie się do serwisu. • Więcej informacji: Polityka cookies OPI PIB

×

Regulamin korzystania z serwisu PBN znajduję się pod adresem: Regulamin serwisu

Szukaj wśród:
Dane publikacji

Simulation of trap-assisted tunneling effect on characteristics of gallium nitride diodes

Artykuł
Czasopismo : Journal of Applied Physics   Tom: 111, Strony: 123115
Konrad Sakowski [1] , [2] , Leszek Marcinkowski [2] , Stanisław Krukowski [1] , [3] , Szymon Grzanka [1] , Elzbieta Litwin-Staszewska [1]
2012 angielski
Link do publicznie dostępnego pełnego tekstu
Identyfikatory
-
Cechy publikacji
-
  • Oryginalny artykuł naukowy
  • Zrecenzowana naukowo
Dyscypliny naukowe
-
Fizyka
Abstrakty ( angielski )
-
In this paper, simulations of I-V characteristics and band structures of magnesium and silicon doped gallium nitride diodes are presented. The numerical algorithm is based on the drift-diffusion semi-classic model, with the van Roosbroeck differential equation system involved. The model accounts for trap-assisted tunneling, which provides better agreement between the predicted and experimental I-V characteristics of p-n junctions in the low-bias range. We have performed one-dimensional simulations of devices. We compare the results with the results obtained from the standard drift-diffusion model. It is shown that taking the trap-assisted tunneling into account leads to good agreement with experimental data. We also demonstrate that a high doping of the p-n junctions may significantly increase the nonradiative recombination rate due to the prescribed effect.
Zacytuj dokument
-